红外与激光工程
紅外與激光工程
홍외여격광공정
INFRARED AND LASER ENGINEERING
2013年
z1期
103-106
,共4页
邵晓鹏%王杨%高鹏%许宏涛
邵曉鵬%王楊%高鵬%許宏濤
소효붕%왕양%고붕%허굉도
量子效率%CCD芯片%量子效率%测量装置%测量方法
量子效率%CCD芯片%量子效率%測量裝置%測量方法
양자효솔%CCD심편%양자효솔%측량장치%측량방법
quantum efficiency%charge coupled devices%quantum efficiency%measurement setup%measurement method
CCD芯片的量子效率表示在曝光时间内到达像素光敏面的光子转换为电子的百分比,与器件的几何结构、材料等有关,是评价CCD芯片性能的最主要因素之一.通过一定的测量装置及相应的测量方法对CCD芯片的量子效率进行测量,才能对CCD芯片的成像性能做出客观评价.因此,根据欧洲机器视觉协会制定的EMVA1288标准设计了一套CCD芯片量子效率的测量装置,并且阐述了基于量子效率的测量方法,解决了单色光生成以及对于不同CCD测量时的兼容性问题.经过反复论证,该测量装置和方法具有通用性强、高精度和高稳定度等优点.
CCD芯片的量子效率錶示在曝光時間內到達像素光敏麵的光子轉換為電子的百分比,與器件的幾何結構、材料等有關,是評價CCD芯片性能的最主要因素之一.通過一定的測量裝置及相應的測量方法對CCD芯片的量子效率進行測量,纔能對CCD芯片的成像性能做齣客觀評價.因此,根據歐洲機器視覺協會製定的EMVA1288標準設計瞭一套CCD芯片量子效率的測量裝置,併且闡述瞭基于量子效率的測量方法,解決瞭單色光生成以及對于不同CCD測量時的兼容性問題.經過反複論證,該測量裝置和方法具有通用性彊、高精度和高穩定度等優點.
CCD심편적양자효솔표시재폭광시간내도체상소광민면적광자전환위전자적백분비,여기건적궤하결구、재료등유관,시평개CCD심편성능적최주요인소지일.통과일정적측량장치급상응적측량방법대CCD심편적양자효솔진행측량,재능대CCD심편적성상성능주출객관평개.인차,근거구주궤기시각협회제정적EMVA1288표준설계료일투CCD심편양자효솔적측량장치,병차천술료기우양자효솔적측량방법,해결료단색광생성이급대우불동CCD측량시적겸용성문제.경과반복론증,해측량장치화방법구유통용성강、고정도화고은정도등우점.
