计算机工程与应用
計算機工程與應用
계산궤공정여응용
COMPUTER ENGINEERING AND APPLICATIONS
2014年
1期
251-254
,共4页
张浩%汪楠%叶明全%谢飞
張浩%汪楠%葉明全%謝飛
장호%왕남%협명전%사비
模拟电路%故障诊断%特征选择%分类器参数%粒子群优化算法
模擬電路%故障診斷%特徵選擇%分類器參數%粒子群優化算法
모의전로%고장진단%특정선택%분류기삼수%입자군우화산법
analog circuits%fault diagnosis%features selection%classifier parameters%particle swarm optimization algorithm
为了提高模拟电路故障诊断准确率,提出一种联合选择特征选和分类器参数模型的模拟电路故障诊断方法(Feature-Classifier)。将模拟电路故障特征子集和分类器参数编码成为粒子,然后粒子根据目标函数通过信息交流和互相协作找到最优特征子集和分类器参数,并根据最优特征子集对样本进行约简;分类器根据最优参数对约简后样本进行训练建立模拟电路故障诊断模型,并通过仿真实例对性能进行测试。结果表明,相对于其他模拟电路故障诊断方法,Feature-Classifier能够较快找到最优特征子集与分类器参数,不仅提高了模拟电路故障诊断准确率,并加快了故障诊断速度。
為瞭提高模擬電路故障診斷準確率,提齣一種聯閤選擇特徵選和分類器參數模型的模擬電路故障診斷方法(Feature-Classifier)。將模擬電路故障特徵子集和分類器參數編碼成為粒子,然後粒子根據目標函數通過信息交流和互相協作找到最優特徵子集和分類器參數,併根據最優特徵子集對樣本進行約簡;分類器根據最優參數對約簡後樣本進行訓練建立模擬電路故障診斷模型,併通過倣真實例對性能進行測試。結果錶明,相對于其他模擬電路故障診斷方法,Feature-Classifier能夠較快找到最優特徵子集與分類器參數,不僅提高瞭模擬電路故障診斷準確率,併加快瞭故障診斷速度。
위료제고모의전로고장진단준학솔,제출일충연합선택특정선화분류기삼수모형적모의전로고장진단방법(Feature-Classifier)。장모의전로고장특정자집화분류기삼수편마성위입자,연후입자근거목표함수통과신식교류화호상협작조도최우특정자집화분류기삼수,병근거최우특정자집대양본진행약간;분류기근거최우삼수대약간후양본진행훈련건립모의전로고장진단모형,병통과방진실례대성능진행측시。결과표명,상대우기타모의전로고장진단방법,Feature-Classifier능구교쾌조도최우특정자집여분류기삼수,불부제고료모의전로고장진단준학솔,병가쾌료고장진단속도。
In order to improve fault diagnosis rate of analog circuits, this paper proposes a fault diagnosis method based on jointly selection features and classifier parameters model. The features and classifier parameters are encoded as a particle, and then, the optimal features and classifier parameters are obtained by the particle swarm optimization algorithm according to objection function, and the samples are reduced on the optimal features. Finally, the samples are input into the classifier to train and build the fault diagnosis model of analog circuits with the optimal parameters, and the simulation experiments are carried out to test the performance of the model. The results show that the proposed method can select the optimal features and classifier parameters quickly to improve the fault diagnosis rate of analog circuits and fasten the speed of the fault diagnosis compared with other methods.