分析仪器
分析儀器
분석의기
ANALYTICAL INSTRUMENTATION
2014年
1期
69-72
,共4页
高真空扫描电镜%低电压%显微结构%花粉
高真空掃描電鏡%低電壓%顯微結構%花粉
고진공소묘전경%저전압%현미결구%화분
high vacuum scanning electron microscope%low voltage%microstructure%pollen
利用普通高真空扫描电镜，在低电压条件下对不同种类的花粉进行显微结构观察。结果表明在高真空环境下，样品未出现荷电、漂移现象，同时能得到的清晰、真实的微观形貌图，为含水材料表面分析提供一种简便、有效的方法。
利用普通高真空掃描電鏡，在低電壓條件下對不同種類的花粉進行顯微結構觀察。結果錶明在高真空環境下，樣品未齣現荷電、漂移現象，同時能得到的清晰、真實的微觀形貌圖，為含水材料錶麵分析提供一種簡便、有效的方法。
이용보통고진공소묘전경，재저전압조건하대불동충류적화분진행현미결구관찰。결과표명재고진공배경하，양품미출현하전、표이현상，동시능득도적청석、진실적미관형모도，위함수재료표면분석제공일충간편、유효적방법。
The microstructure of different kinds of pollen has been observed by using common high vac-uum scanning electron microscope. The observation condition is high vacuum ,low voltage. The results show that the clear and true microstructure of the samples is got in the high vacuum environment ,mean-while ,there is no charge and drift phenomenon. The study provides a simple and effective surface analysis method for water-bearing materials.
