情报杂志
情報雜誌
정보잡지
JOURNAL OF INFORMATION
2014年
3期
22-27
,共6页
技术预测%专利文献%专利指标%专利分析%技术创新%概念模型
技術預測%專利文獻%專利指標%專利分析%技術創新%概唸模型
기술예측%전리문헌%전리지표%전리분석%기술창신%개념모형
technology forecast%patent literature%patent indicators%patent analysis%technological innovation%conceptual model
国内外研究者对技术预测给予了不同的阐释。专利分析作为技术预测的一种有效工具,可以为技术创新提供有力的决策支持。针对特定技术领域的预测,是基于“专利三性”隐含的技术发展方向、技术发展水平和技术发展潜力的特征所作出的判断。因此,可以建立一个基于专利分析的技术预测概念模型。概念模型在纵向层次上分为总预测层、预测综合层、预测分析层和预测信息层。在此基础上,选择和运用相应的专利分析指标和方法,形成一个技术预测的专利分析方法框架,以指导实际的技术预测活动。技术预测的效用可以用技术的发展方向、发展水平和发展潜力这三个变量予以描述。但专利分析也存在局限性,需要与其它方法配合使用。
國內外研究者對技術預測給予瞭不同的闡釋。專利分析作為技術預測的一種有效工具,可以為技術創新提供有力的決策支持。針對特定技術領域的預測,是基于“專利三性”隱含的技術髮展方嚮、技術髮展水平和技術髮展潛力的特徵所作齣的判斷。因此,可以建立一箇基于專利分析的技術預測概唸模型。概唸模型在縱嚮層次上分為總預測層、預測綜閤層、預測分析層和預測信息層。在此基礎上,選擇和運用相應的專利分析指標和方法,形成一箇技術預測的專利分析方法框架,以指導實際的技術預測活動。技術預測的效用可以用技術的髮展方嚮、髮展水平和髮展潛力這三箇變量予以描述。但專利分析也存在跼限性,需要與其它方法配閤使用。
국내외연구자대기술예측급여료불동적천석。전리분석작위기술예측적일충유효공구,가이위기술창신제공유력적결책지지。침대특정기술영역적예측,시기우“전리삼성”은함적기술발전방향、기술발전수평화기술발전잠력적특정소작출적판단。인차,가이건립일개기우전리분석적기술예측개념모형。개념모형재종향층차상분위총예측층、예측종합층、예측분석층화예측신식층。재차기출상,선택화운용상응적전리분석지표화방법,형성일개기술예측적전리분석방법광가,이지도실제적기술예측활동。기술예측적효용가이용기술적발전방향、발전수평화발전잠력저삼개변량여이묘술。단전리분석야존재국한성,수요여기타방법배합사용。
There are different definitions for technology forecast domestically and abroad. Being an effective tool for technology forecast, patent analysis is very helpful to technological innovation decision-making. Because the forecast in specific technology fields is based on features of technology development direction, level and potential implicated in the “three natures of patent”, so a conceptual model of technology forecast can be built on the basis of patent analysis. The proposed model consists four layers of overall forecast, forecast con-solidated, predictive analysis and forecast information from a longitudinal level. Based on this, corresponding indicators and methods of patent analysis can be chosen and used to build a patent analysis frame for technology forecast to guide the actual activities of technology forecast. The effectiveness of technology forecast can be described with the three variables of development direction, level and potential of technology. And it is suggested that other methods be used together with patent analysis because of its limitations.