中国集成电路
中國集成電路
중국집성전로
CHINA INTEGRATED CIRCUIT
2014年
7期
30-34
,共5页
扫描测试%低功耗%贪婪算法%片上系统%绕线
掃描測試%低功耗%貪婪算法%片上繫統%繞線
소묘측시%저공모%탐람산법%편상계통%요선
芯片测试模式下功耗过高的情形会极大地降低芯片良率,已经成为越来越严重的问题.针对此问题,本文提出了一种降低测试功耗的设计方法.该方法采用贪婪算法来改变扫描链顺序,同时考虑芯片物理版图中寄存器单元的具体位置,能够实现在不影响测试覆盖率和绕线的前提下,快速有效地降低测试功耗.与已有的多种方法相比,该方法更快速更合理,可以应用于多种芯片的扫描链设计.该方法通过一款实际的电力线载波通信芯片验证,分别将平均功耗和瞬态功耗降至77％和83％.
芯片測試模式下功耗過高的情形會極大地降低芯片良率,已經成為越來越嚴重的問題.針對此問題,本文提齣瞭一種降低測試功耗的設計方法.該方法採用貪婪算法來改變掃描鏈順序,同時攷慮芯片物理版圖中寄存器單元的具體位置,能夠實現在不影響測試覆蓋率和繞線的前提下,快速有效地降低測試功耗.與已有的多種方法相比,該方法更快速更閤理,可以應用于多種芯片的掃描鏈設計.該方法通過一款實際的電力線載波通信芯片驗證,分彆將平均功耗和瞬態功耗降至77％和83％.
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