CAJ | 학술논문

随着电子技术的发展，霍尔效应不单是测定半导体材料电学参数的主要手段，利用霍尔效应制成的霍尔器件凭借其结构简单、频率响应宽(高达10GHz)、寿命长、可靠性高等优点，已广泛应用于非电量测量、自动控制和信息处理等方面，随着半导体物理学的迅速发展，霍尔系数和电导率的测量已成为研究半导体材料的主要方法之一，通过实验测量半导体材料的霍尔系数和电导率可以判断材料的导电类型、载流子浓度、载流子迁移率等主要参数。本文重点对霍尔电压(VH)与工作电流(IS)、霍尔电压(VH)与磁场的关系进行实验探索，进一步深入了解霍尔效应的机理。
수착전자기술적발전，곽이효응불단시측정반도체재료전학삼수적주요수단，이용곽이효응제성적곽이기건빙차기결구간단、빈솔향응관(고체10GHz)、수명장、가고성고등우점，이엄범응용우비전량측량、자동공제화신식처리등방면，수착반도체물이학적신속발전，곽이계수화전도솔적측량이성위연구반도체재료적주요방법지일，통과실험측량반도체재료적곽이계수화전도솔가이판단재료적도전류형、재류자농도、재류자천이솔등주요삼수。본문중점대곽이전압(VH)여공작전류(IS)、곽이전압(VH)여자장적관계진행실험탐색，진일보심입료해곽이효응적궤리。