分析仪器
分析儀器
분석의기
ANALYTICAL INSTRUMENTATION
2014年
2期
43-46
,共4页
白云母%游离二氧化硅含量%X射线衍射(XRD )%Rietveld全谱拟合法
白雲母%遊離二氧化硅含量%X射線衍射(XRD )%Rietveld全譜擬閤法
백운모%유리이양화규함량%X사선연사(XRD )%Rietveld전보의합법
mica powder%free silica content%X-ray diffraction(XRD)%Rietveld full profile fitting method
以具有复杂晶体结构、X射线衍射峰与游离二氧化硅衍射峰严重重叠及易择优取向等特点的云母矿粉为研究对象，探讨了利用具有超能探测器的X射线衍射仪在连续扫描模式下收谱以及Rietveld全谱拟合快速测定其中游离二氧化硅含量的可行性。结果表明：与步骤复杂、测试周期长等的传统X射线衍射标准曲线法相比较而言，该方法不仅操作简便、收谱快速而且结果准确性高、重现性好。重现性测定的最大标准偏差为1.39％。实际样品测试也表明此方法是一种简便易行的测定各类粉尘中游离二氧化硅含量的好方法。
以具有複雜晶體結構、X射線衍射峰與遊離二氧化硅衍射峰嚴重重疊及易擇優取嚮等特點的雲母礦粉為研究對象，探討瞭利用具有超能探測器的X射線衍射儀在連續掃描模式下收譜以及Rietveld全譜擬閤快速測定其中遊離二氧化硅含量的可行性。結果錶明：與步驟複雜、測試週期長等的傳統X射線衍射標準麯線法相比較而言，該方法不僅操作簡便、收譜快速而且結果準確性高、重現性好。重現性測定的最大標準偏差為1.39％。實際樣品測試也錶明此方法是一種簡便易行的測定各類粉塵中遊離二氧化硅含量的好方法。
이구유복잡정체결구、X사선연사봉여유리이양화규연사봉엄중중첩급역택우취향등특점적운모광분위연구대상，탐토료이용구유초능탐측기적X사선연사의재련속소묘모식하수보이급Rietveld전보의합쾌속측정기중유리이양화규함량적가행성。결과표명：여보취복잡、측시주기장등적전통X사선연사표준곡선법상비교이언，해방법불부조작간편、수보쾌속이차결과준학성고、중현성호。중현성측정적최대표준편차위1.39％。실제양품측시야표명차방법시일충간편역행적측정각류분진중유리이양화규함량적호방법。
In this paper we discussed the feasibility of determination of free silica content in mica pow-der by the X-ray diffraction Rietveld analysis method .The XRD patterns were obtained using an automatic X-ray powder diffractometer with an X Celerator .Compared with the traditional X-ray diffraction standard curve method ,the method has many advantages such as fast speed ,high accuracy ,good reproducibility . The maximum RSD is 1 .39% .This method is also applicable to other types of mineral sample .
