CAJ | 학술논문

在扫描电镜中,采用纳米微操纵仪构成一个2探针电流-电压(I-V)测试装置.测试了单根ZnO纳米线接触钨电极构成的金属-半导体-金属(M-S-M)结的I-V特征曲线.ZnO纳米线的I-V曲线呈现出较弱的肖特基特性.研究了电子束辐照对ZnO纳米线的I-V曲线的影响.30 keV电子束辐照使ZnO纳米线的总电阻减小.计算得到ZnO纳米线的电导率σ=0.24 S/cm,载流子浓度n=1.64×1016 cm-3.为了对比,还测试了单根碳纤维接触钨电极的I-V特征曲线.在30 keV电子束辐照下,碳纤维的总电阻保持不变,电导率σ＝22 S/cm.
재소묘전경중,채용납미미조종의구성일개2탐침전류-전압(I-V)측시장치.측시료단근ZnO납미선접촉오전겁구성적금속-반도체-금속(M-S-M)결적I-V특정곡선.ZnO납미선적I-V곡선정현출교약적초특기특성.연구료전자속복조대ZnO납미선적I-V곡선적영향.30 keV전자속복조사ZnO납미선적총전조감소.계산득도ZnO납미선적전도솔σ=0.24 S/cm,재류자농도n=1.64×1016 cm-3.위료대비,환측시료단근탄섬유접촉오전겁적I-V특정곡선.재30 keV전자속복조하,탄섬유적총전조보지불변,전도솔σ＝22 S/cm.