光电技术应用
光電技術應用
광전기술응용
ELECTRO-OPTIC WARFARE & RADAR PASSIVE COUNTERMEASURES
2009年
5期
27-29,43
,共4页
材料表征%扫描探针显微镜(SPM)%扫描隧道显微镜(STM)%原子力显微镜(AFM)%近场扫描光学显微镜(SNOM)
材料錶徵%掃描探針顯微鏡(SPM)%掃描隧道顯微鏡(STM)%原子力顯微鏡(AFM)%近場掃描光學顯微鏡(SNOM)
재료표정%소묘탐침현미경(SPM)%소묘수도현미경(STM)%원자력현미경(AFM)%근장소묘광학현미경(SNOM)
扫描探针显微镜(SPM)作为一种广泛应用的表面表征工具,不仅可以表征三维形貌,还能定量地研究表面的粗糙度、孔径大小和分布及颗粒尺寸,在许多学科均可发挥作用.以纳米材料为主要研究对象,综述了国外最新的几种扫描探针显微表征技术,包括扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)和近场扫描光学显微镜(SNOM)等方法, 展示了这几种技术在纳米材料的结构和性能方面的应用.
掃描探針顯微鏡(SPM)作為一種廣汎應用的錶麵錶徵工具,不僅可以錶徵三維形貌,還能定量地研究錶麵的粗糙度、孔徑大小和分佈及顆粒呎吋,在許多學科均可髮揮作用.以納米材料為主要研究對象,綜述瞭國外最新的幾種掃描探針顯微錶徵技術,包括掃描隧道顯微鏡(STM)、原子力顯微鏡(AFM)和近場掃描光學顯微鏡(SNOM)等方法, 展示瞭這幾種技術在納米材料的結構和性能方麵的應用.
소묘탐침현미경(SPM)작위일충엄범응용적표면표정공구,불부가이표정삼유형모,환능정량지연구표면적조조도、공경대소화분포급과립척촌,재허다학과균가발휘작용.이납미재료위주요연구대상,종술료국외최신적궤충소묘탐침현미표정기술,포괄소묘수도현미경(STM)、원자력현미경(AFM)화근장소묘광학현미경(SNOM)등방법, 전시료저궤충기술재납미재료적결구화성능방면적응용.
