微处理机
微處理機
미처리궤
MICROPROCESSORS
2013年
3期
14-15
,共2页
CV测试%曲线异常%温偏实验
CV測試%麯線異常%溫偏實驗
CV측시%곡선이상%온편실험
CV measure%Curve abnormity%Bias-temperature experiment
针对半导体CV测试中出现的一种曲线异常现象进行分析,找出问题所在,最终得出解决的办法.并提出一些有利于改进CV测试效果的建议.
針對半導體CV測試中齣現的一種麯線異常現象進行分析,找齣問題所在,最終得齣解決的辦法.併提齣一些有利于改進CV測試效果的建議.
침대반도체CV측시중출현적일충곡선이상현상진행분석,조출문제소재,최종득출해결적판법.병제출일사유리우개진CV측시효과적건의.