电子产品可靠性与环境试验
電子產品可靠性與環境試驗
전자산품가고성여배경시험
ELECTRONIC PRODUCT RELIABILITY AND ENVIRONMENTAL TESTING
2013年
2期
12-17
,共6页
功率循环%铝键合线%有限元法%疲劳寿命
功率循環%鋁鍵閤線%有限元法%疲勞壽命
공솔순배%려건합선%유한원법%피로수명
随着IGBT功率模块的广泛应用,其功率循环可靠性问题得到关注和重视.介绍了模块的功率循环失效机理,指出铝键合线剥离是模块功率循环失效的原因;基于有限元法计算了模块在功率循环过程中的温度分布与变化,并在此基础上计算了模块的应力应变:根据应力应变数值的计算结果,分别采用应变能法和应变法等两种疲劳破坏准则,预测了键合线疲劳寿命.研究表明,铝键合线根部为模块的疲劳危险区:随着芯片热损耗的增加,芯片结温变化幅度的增加,功率模块疲劳寿命急剧地减小.
隨著IGBT功率模塊的廣汎應用,其功率循環可靠性問題得到關註和重視.介紹瞭模塊的功率循環失效機理,指齣鋁鍵閤線剝離是模塊功率循環失效的原因;基于有限元法計算瞭模塊在功率循環過程中的溫度分佈與變化,併在此基礎上計算瞭模塊的應力應變:根據應力應變數值的計算結果,分彆採用應變能法和應變法等兩種疲勞破壞準則,預測瞭鍵閤線疲勞壽命.研究錶明,鋁鍵閤線根部為模塊的疲勞危險區:隨著芯片熱損耗的增加,芯片結溫變化幅度的增加,功率模塊疲勞壽命急劇地減小.
수착IGBT공솔모괴적엄범응용,기공솔순배가고성문제득도관주화중시.개소료모괴적공솔순배실효궤리,지출려건합선박리시모괴공솔순배실효적원인;기우유한원법계산료모괴재공솔순배과정중적온도분포여변화,병재차기출상계산료모괴적응력응변:근거응력응변수치적계산결과,분별채용응변능법화응변법등량충피로파배준칙,예측료건합선피로수명.연구표명,려건합선근부위모괴적피로위험구:수착심편열손모적증가,심편결온변화폭도적증가,공솔모괴피로수명급극지감소.
