硅谷
硅穀
규곡
SILICON VALLEY
2012年
14期
138-139
,共2页
劳埃德镜%干涉%测量
勞埃德鏡%榦涉%測量
로애덕경%간섭%측량
介绍一种利用劳埃德镜测量微薄物体厚度的新方法，该方法利用光的干涉原理，借助条纹间距的改变来测出物体的厚度。结果表明，该方法不仅操作简单，而且测量结果具有较高准确性。是一种可行的方法。
介紹一種利用勞埃德鏡測量微薄物體厚度的新方法，該方法利用光的榦涉原理，藉助條紋間距的改變來測齣物體的厚度。結果錶明，該方法不僅操作簡單，而且測量結果具有較高準確性。是一種可行的方法。
개소일충이용로애덕경측량미박물체후도적신방법，해방법이용광적간섭원리，차조조문간거적개변래측출물체적후도。결과표명，해방법불부조작간단，이차측량결과구유교고준학성。시일충가행적방법。
