电光与控制
電光與控製
전광여공제
ELECTRONICS OPTICS & CONTROL
2013年
1期
74-76,88
,共4页
电子装备%综合诊断%测试性%测试资源分配%机内测试设备%自动测试设备
電子裝備%綜閤診斷%測試性%測試資源分配%機內測試設備%自動測試設備
전자장비%종합진단%측시성%측시자원분배%궤내측시설비%자동측시설비
针对综合诊断思想对电子装备测试资源分配的新要求,在测试点优化的基础上,建立了装备BITE与ATE优化分配的模型.该模型以测试代价最小为优化目标,以故障检测率、故障隔离率及虚警率为约束条件并通过LINGO求解.结果表明,该方法在满足测试性指标的同时降低了测试代价,对装备分层次设计和诊断、提高保障效率、减少寿命周期费用,具有重要意义.
針對綜閤診斷思想對電子裝備測試資源分配的新要求,在測試點優化的基礎上,建立瞭裝備BITE與ATE優化分配的模型.該模型以測試代價最小為優化目標,以故障檢測率、故障隔離率及虛警率為約束條件併通過LINGO求解.結果錶明,該方法在滿足測試性指標的同時降低瞭測試代價,對裝備分層次設計和診斷、提高保障效率、減少壽命週期費用,具有重要意義.
침대종합진단사상대전자장비측시자원분배적신요구,재측시점우화적기출상,건립료장비BITE여ATE우화분배적모형.해모형이측시대개최소위우화목표,이고장검측솔、고장격리솔급허경솔위약속조건병통과LINGO구해.결과표명,해방법재만족측시성지표적동시강저료측시대개,대장비분층차설계화진단、제고보장효솔、감소수명주기비용,구유중요의의.