CAJ | 학술논문

对于常规电子仪器开发来说，电子元器件由于受到自身固有性能及外界客观环境因素的影响，往往在实际测量与理论计算之间存在一定的偏差．最终导致电子仪器的整体性能受到影响。为了更好地还原真实的理论现象。需要在理论计算和实验测量之间架起一座桥梁．使其能够从不准确的测量值过渡到最终准确的实际输出值。这里．常用到的方法就是数据回归或曲线拟合，那么，其中的核心算法就是最小二乘法。
대우상규전자의기개발래설，전자원기건유우수도자신고유성능급외계객관배경인소적영향，왕왕재실제측량여이론계산지간존재일정적편차．최종도치전자의기적정체성능수도영향。위료경호지환원진실적이론현상。수요재이론계산화실험측량지간가기일좌교량．사기능구종불준학적측량치과도도최종준학적실제수출치。저리．상용도적방법취시수거회귀혹곡선의합，나요，기중적핵심산법취시최소이승법。