CAJ | 학술논문

万方数据

质量与可靠性 질량여가고성
QUALITY AND RELIABILITY
2012年 1期 4-6 ,共3页

朱辉%胡冰%吕倩%刘鸿瑾硃輝%鬍冰%呂倩%劉鴻瑾

주휘%호빙%려천%류홍근

FPGA%空间辐射%故障模式%可靠性 FPGA%空間輻射%故障模式%可靠性
FPGA%공간복사%고장모식%가고성

分析了空间辐射环境对SRAM型FPGA可靠性的影响,总结归纳了空间应用SRAM型FPGA的故障模式,供FPGA产品设计人员参考。
분석료공간복사배경대SRAM형FPGA가고성적영향,총결귀납료공간응용SRAM형FPGA적고장모식,공FPGA산품설계인원삼고。