核电子学与探测技术
覈電子學與探測技術
핵전자학여탐측기술
NUCLEAR ELECTRONICS & DETECTION TECHNOLOGY
2012年
11期
1247-1250
,共4页
杜川华%詹峻岭%许献国%袁国火
杜川華%詹峻嶺%許獻國%袁國火
두천화%첨준령%허헌국%원국화
反熔丝现场可编程门阵列%γ射线%瞬时电离辐射效应%铁电存储器%信息保存与恢复
反鎔絲現場可編程門陣列%γ射線%瞬時電離輻射效應%鐵電存儲器%信息保存與恢複
반용사현장가편정문진렬%γ사선%순시전리복사효응%철전존저기%신식보존여회복
针对反熔丝FPGA电路,在“强光一号”加速器上进行了瞬时电离辐射试验,发现γ射线瞬时电离辐射会导致FPGA内部寄存器清零,使FPGA运行状态被初始化.为了解决该问题,设计了一种“FPGA+ FRAM(铁电存储器)+特殊时序读写软件”的加固电路,通过γ射线瞬时电离辐射试验证明:该加固电路实现了瞬时电离辐射状态下FPGA内部重要数据的实时保存与恢复,成功规避了FPGA电路的瞬时电离辐射效应.
針對反鎔絲FPGA電路,在“彊光一號”加速器上進行瞭瞬時電離輻射試驗,髮現γ射線瞬時電離輻射會導緻FPGA內部寄存器清零,使FPGA運行狀態被初始化.為瞭解決該問題,設計瞭一種“FPGA+ FRAM(鐵電存儲器)+特殊時序讀寫軟件”的加固電路,通過γ射線瞬時電離輻射試驗證明:該加固電路實現瞭瞬時電離輻射狀態下FPGA內部重要數據的實時保存與恢複,成功規避瞭FPGA電路的瞬時電離輻射效應.
침대반용사FPGA전로,재“강광일호”가속기상진행료순시전리복사시험,발현γ사선순시전리복사회도치FPGA내부기존기청령,사FPGA운행상태피초시화.위료해결해문제,설계료일충“FPGA+ FRAM(철전존저기)+특수시서독사연건”적가고전로,통과γ사선순시전리복사시험증명:해가고전로실현료순시전리복사상태하FPGA내부중요수거적실시보존여회복,성공규피료FPGA전로적순시전리복사효응.