中国新技术新产品
中國新技術新產品
중국신기술신산품
CHINA NEW TECHNOLOGIES AND PRODUCTS
2010年
20期
41-43
,共3页
噪声%噪声功率%功率谱密度%相关系数
譟聲%譟聲功率%功率譜密度%相關繫數
조성%조성공솔%공솔보밀도%상관계수
本文主要介绍半导体器件缺陷与噪声的关系.根据噪声电子学的知识和低频噪声检测半导体器件缺陷理论及其在实际中的应用,从原理上分析器件缺陷所引发的电路故障与噪声特性参数关系,通过对输出噪声特性参数的分析和处理达到诊断电路故障.
本文主要介紹半導體器件缺陷與譟聲的關繫.根據譟聲電子學的知識和低頻譟聲檢測半導體器件缺陷理論及其在實際中的應用,從原理上分析器件缺陷所引髮的電路故障與譟聲特性參數關繫,通過對輸齣譟聲特性參數的分析和處理達到診斷電路故障.
본문주요개소반도체기건결함여조성적관계.근거조성전자학적지식화저빈조성검측반도체기건결함이론급기재실제중적응용,종원리상분석기건결함소인발적전로고장여조성특성삼수관계,통과대수출조성특성삼수적분석화처리체도진단전로고장.
