电脑知识与技术
電腦知識與技術
전뇌지식여기술
COMPUTER KNOWLEDGE AND TECHNOLOGY
2013年
5期
1161-1162
,共2页
热载流子%可靠性模型%寿命%JEDEC标准
熱載流子%可靠性模型%壽命%JEDEC標準
열재류자%가고성모형%수명%JEDEC표준
hot carrier%reliability model%lifetime%JEDEC standards
该文主要阐述了热载流子效应产生的物理机制及器件的退化，进一步介绍了在JEDEC标准中，对可靠性模型寿命计算做出的规范下，目前使用的三种寿命计算模型：衬底电流模型，Vd模型，Isub/Id模型（即：胡模型），基于这些模型对器件寿命的估算，将为集成电路设计中器件优化与工艺改进提供重要参考信息。
該文主要闡述瞭熱載流子效應產生的物理機製及器件的退化，進一步介紹瞭在JEDEC標準中，對可靠性模型壽命計算做齣的規範下，目前使用的三種壽命計算模型：襯底電流模型，Vd模型，Isub/Id模型（即：鬍模型），基于這些模型對器件壽命的估算，將為集成電路設計中器件優化與工藝改進提供重要參攷信息。
해문주요천술료열재류자효응산생적물리궤제급기건적퇴화，진일보개소료재JEDEC표준중，대가고성모형수명계산주출적규범하，목전사용적삼충수명계산모형：츤저전류모형，Vd모형，Isub/Id모형（즉：호모형），기우저사모형대기건수명적고산，장위집성전로설계중기건우화여공예개진제공중요삼고신식。
