电子工业专用设备
電子工業專用設備
전자공업전용설비
EQUIPMENT FOR ELECTRONIC PRODUCTS MANUFACTURING
2012年
7期
13-14,39
,共3页
LED探针台%数据处理%坐标资料%Map图
LED探針檯%數據處理%坐標資料%Map圖
LED탐침태%수거처리%좌표자료%Map도
LED Probe Station%Data Processing%Coordinate Data%Map Figure
因LED测试芯片经过切割、崩裂、扩张后其上的晶粒会产生很大变形,产生很多空点和排列不规则的点。LED探针台使用面阵相机对晶圆上的晶粒图像数据采集时,两屏之间存在重叠区域,造成大量重复数据。要短时间内获取到点附于蓝膜上晶粒的精确唯一位置和坐标,需要寻找一种可靠高效的数据处理算法,通过对几种数据处理算法进行研究得出最优算法。
因LED測試芯片經過切割、崩裂、擴張後其上的晶粒會產生很大變形,產生很多空點和排列不規則的點。LED探針檯使用麵陣相機對晶圓上的晶粒圖像數據採集時,兩屏之間存在重疊區域,造成大量重複數據。要短時間內穫取到點附于藍膜上晶粒的精確唯一位置和坐標,需要尋找一種可靠高效的數據處理算法,通過對幾種數據處理算法進行研究得齣最優算法。
인LED측시심편경과절할、붕렬、확장후기상적정립회산생흔대변형,산생흔다공점화배렬불규칙적점。LED탐침태사용면진상궤대정원상적정립도상수거채집시,량병지간존재중첩구역,조성대량중복수거。요단시간내획취도점부우람막상정립적정학유일위치화좌표,수요심조일충가고고효적수거처리산법,통과대궤충수거처리산법진행연구득출최우산법。
LED test chip in the blue film, after cutting, crack, expansion, the grains on the test chip produce many empty and irregular points. LED probe employ the plane array camera to collect the image data of die, there is an overlap region between two screen, resulting in a large number of duplicate data. To obtain a precise location data and coordinate data of the blue film grain in a short period of time, you need to find a reliable and efficient data processing algorithms. This paper studies the optimal algorithm on several data processing algorithms.