电子质量
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전자질량
ELECTRONICS QUALITY
2014年
2期
6-8
,共3页
塞尺%厚度%测量方法
塞呎%厚度%測量方法
새척%후도%측량방법
塞尺是一种常用的检验间隙的薄片式量具,厚度是其主要技术指标.在塞尺检定规程中,对塞尺厚度的测量方法介绍有些简单,容易造成不同人员测量结果的不统一.该文分析了塞尺检定规程中存在的一些问题,并提出了更合理的塞尺厚度测量的取点和取值的方法.根据该方法基本可以实现塞尺厚度量值统一的目的.
塞呎是一種常用的檢驗間隙的薄片式量具,厚度是其主要技術指標.在塞呎檢定規程中,對塞呎厚度的測量方法介紹有些簡單,容易造成不同人員測量結果的不統一.該文分析瞭塞呎檢定規程中存在的一些問題,併提齣瞭更閤理的塞呎厚度測量的取點和取值的方法.根據該方法基本可以實現塞呎厚度量值統一的目的.
새척시일충상용적검험간극적박편식량구,후도시기주요기술지표.재새척검정규정중,대새척후도적측량방법개소유사간단,용역조성불동인원측량결과적불통일.해문분석료새척검정규정중존재적일사문제,병제출료경합리적새척후도측량적취점화취치적방법.근거해방법기본가이실현새척후도량치통일적목적.
