微电子学
微電子學
미전자학
MICROELECTRONICS
2013年
1期
139-142
,共4页
数字集成电路%测试功耗%测试向量排序%加权海明距离
數字集成電路%測試功耗%測試嚮量排序%加權海明距離
수자집성전로%측시공모%측시향량배서%가권해명거리
研究了数字集成电路测试过程中的功耗问题,提出一种新的测试向量重排序方法,有效地减小了测试过程中电路状态的翻转次数.该方法根据电路结构和测试集的特征计算输入的影响度系数,定义加权海明距离,在不影响故障覆盖率的前提下,有效地降低了测试功耗.实验结果显示,经过该方法重排序后的测试集在测试过程中功耗平均降低48.07％,明显优于海明距离法.
研究瞭數字集成電路測試過程中的功耗問題,提齣一種新的測試嚮量重排序方法,有效地減小瞭測試過程中電路狀態的翻轉次數.該方法根據電路結構和測試集的特徵計算輸入的影響度繫數,定義加權海明距離,在不影響故障覆蓋率的前提下,有效地降低瞭測試功耗.實驗結果顯示,經過該方法重排序後的測試集在測試過程中功耗平均降低48.07％,明顯優于海明距離法.
연구료수자집성전로측시과정중적공모문제,제출일충신적측시향량중배서방법,유효지감소료측시과정중전로상태적번전차수.해방법근거전로결구화측시집적특정계산수입적영향도계수,정의가권해명거리,재불영향고장복개솔적전제하,유효지강저료측시공모.실험결과현시,경과해방법중배서후적측시집재측시과정중공모평균강저48.07％,명현우우해명거리법.
