电子设计工程
電子設計工程
전자설계공정
ELECTRONIC DESIGN ENGINEERING
2013年
3期
85-89
,共5页
1553B%61580%BC%RT%BM%测试系统
1553B%61580%BC%RT%BM%測試繫統
1553B%61580%BC%RT%BM%측시계통
BU-61580芯片测试系统用于检测DDC公司的BU-61580系列芯片的总线协议功能和电气特性,筛选失效芯片,并具备芯片接口时序调整功能,可检验芯片在不同的接口环境和工作方式下的特殊表现.以Windows XP为开发平台,标准VC++为开发工具,针对该芯片设计一套测试系统.PCI总线接口的专用芯片测试卡能够方便的插入待测试的芯片,与之相应的测试系统能够设置芯片的访问时序,测试芯片工作于不同模式下的状态.实际应用表明,该测试系统具有测试界面灵活、简单、准确的特点,满足了用户的要求.
BU-61580芯片測試繫統用于檢測DDC公司的BU-61580繫列芯片的總線協議功能和電氣特性,篩選失效芯片,併具備芯片接口時序調整功能,可檢驗芯片在不同的接口環境和工作方式下的特殊錶現.以Windows XP為開髮平檯,標準VC++為開髮工具,針對該芯片設計一套測試繫統.PCI總線接口的專用芯片測試卡能夠方便的插入待測試的芯片,與之相應的測試繫統能夠設置芯片的訪問時序,測試芯片工作于不同模式下的狀態.實際應用錶明,該測試繫統具有測試界麵靈活、簡單、準確的特點,滿足瞭用戶的要求.
BU-61580심편측시계통용우검측DDC공사적BU-61580계렬심편적총선협의공능화전기특성,사선실효심편,병구비심편접구시서조정공능,가검험심편재불동적접구배경화공작방식하적특수표현.이Windows XP위개발평태,표준VC++위개발공구,침대해심편설계일투측시계통.PCI총선접구적전용심편측시잡능구방편적삽입대측시적심편,여지상응적측시계통능구설치심편적방문시서,측시심편공작우불동모식하적상태.실제응용표명,해측시계통구유측시계면령활、간단、준학적특점,만족료용호적요구.
