湖北民族学院学报（自然科学版）
湖北民族學院學報（自然科學版）
호북민족학원학보（자연과학판）
JOURNAL OF HUBEI INSTITUTE FOR NATIONALITIES（NATURAL SCIENCE EDITION）
2013年
3期
316-319
,共4页
直流电子负载%高精度%高分辨率%遗传算法%控制器参数自整定
直流電子負載%高精度%高分辨率%遺傳算法%控製器參數自整定
직류전자부재%고정도%고분변솔%유전산법%공제기삼수자정정
系统以STM32F103VET6为控制核心,采用DAC TLV5616控制运算放大器LM358驱动N沟道增强型P-MOS-FET CSD17505Q5A,通过负反馈实现直流电子负载的恒流工作模式.同时采用电流并联检测芯片INA282将电流反馈至MCU,通过ADC采样检测实际电流与DAC设定电流的差值,利用PID控制器串联校正实现无净差控制,提高了电流控制的精度.其中PID参数通过遗传算法进行自整定,预设了一组较优PID参数,在实际高精度测量中,也可以通过重新整定更新PID参数.
繫統以STM32F103VET6為控製覈心,採用DAC TLV5616控製運算放大器LM358驅動N溝道增彊型P-MOS-FET CSD17505Q5A,通過負反饋實現直流電子負載的恆流工作模式.同時採用電流併聯檢測芯片INA282將電流反饋至MCU,通過ADC採樣檢測實際電流與DAC設定電流的差值,利用PID控製器串聯校正實現無淨差控製,提高瞭電流控製的精度.其中PID參數通過遺傳算法進行自整定,預設瞭一組較優PID參數,在實際高精度測量中,也可以通過重新整定更新PID參數.
계통이STM32F103VET6위공제핵심,채용DAC TLV5616공제운산방대기LM358구동N구도증강형P-MOS-FET CSD17505Q5A,통과부반궤실현직류전자부재적항류공작모식.동시채용전류병련검측심편INA282장전류반궤지MCU,통과ADC채양검측실제전류여DAC설정전류적차치,이용PID공제기천련교정실현무정차공제,제고료전류공제적정도.기중PID삼수통과유전산법진행자정정,예설료일조교우PID삼수,재실제고정도측량중,야가이통과중신정정경신PID삼수.
