电子与封装
電子與封裝
전자여봉장
EIECTRONICS AND PACKAGING
2013年
11期
20-23
,共4页
Nand lfash%固态存储%ECC%FPGA
Nand lfash%固態存儲%ECC%FPGA
Nand lfash%고태존저%ECC%FPGA
nand lfash%solid storage system%ECC%FPGA
以Nand lfash为存储介质的固态存储系统中，因为Nand lfash的固有特性，在多次读写后，储存在lfash中的数据将会变得不可靠。所以有必要开发一种能实现数据可靠传输的手段来提高lfash和主控芯片之间数据传输的可靠性。文中介绍了ECC码的特点和原理，在FPGA开发环境下实现ECC校验功能。并通过工程实现，在FPGA上实现了该ECC算法。测试结果表明256 Byte数据生成22 bit的ECC校验数据。能够检测1 bit错误和2 bit错误，并能纠正1 bit错误。
以Nand lfash為存儲介質的固態存儲繫統中，因為Nand lfash的固有特性，在多次讀寫後，儲存在lfash中的數據將會變得不可靠。所以有必要開髮一種能實現數據可靠傳輸的手段來提高lfash和主控芯片之間數據傳輸的可靠性。文中介紹瞭ECC碼的特點和原理，在FPGA開髮環境下實現ECC校驗功能。併通過工程實現，在FPGA上實現瞭該ECC算法。測試結果錶明256 Byte數據生成22 bit的ECC校驗數據。能夠檢測1 bit錯誤和2 bit錯誤，併能糾正1 bit錯誤。
이Nand lfash위존저개질적고태존저계통중，인위Nand lfash적고유특성，재다차독사후，저존재lfash중적수거장회변득불가고。소이유필요개발일충능실현수거가고전수적수단래제고lfash화주공심편지간수거전수적가고성。문중개소료ECC마적특점화원리，재FPGA개발배경하실현ECC교험공능。병통과공정실현，재FPGA상실현료해ECC산법。측시결과표명256 Byte수거생성22 bit적ECC교험수거。능구검측1 bit착오화2 bit착오，병능규정1 bit착오。
In solid storage system, we use nand lfash as media. Because we use nand lfash, after several read and write it, the data in lfash is not stable. We have to deifne a way to let it become stable when we transformer the date with CPU. In this paper we describe the characteristic and principle of ECC. And implementing the function of ECC in FPGA. We get the conclusion that with 22 bit ECC code can correct 1 bit error and detect 2 bit errors in 256 bytes data.
