电子测量技术
電子測量技術
전자측량기술
ELECTRONIC MEASUREMENT TECHNOLOGY
2013年
6期
100-104
,共5页
光栅纳米测量%TMS320F28335%PCI
光柵納米測量%TMS320F28335%PCI
광책납미측량%TMS320F28335%PCI
grating nano measurement%TMS320F28335%PCI
光栅纳米测量卡精度高,动态测量范围广,广泛应用于现代几何量计量设备中.目前国内市场上的光栅测量卡主要来自于国外,价格昂贵,自主产品比较少.为了打破这一现状,设计了一种基于DSP+ PCI的光栅纳米测量卡,通过预放大电路对光栅信号进行处理,采用TMS320F28335对处理的光栅信号进行细分处理,基于PCI接口芯片CH365与计算机相连,实现高精度、快速光栅纳米在线测量.实验表明,运用光栅纳米测量卡测量的位移达到了纳米级.
光柵納米測量卡精度高,動態測量範圍廣,廣汎應用于現代幾何量計量設備中.目前國內市場上的光柵測量卡主要來自于國外,價格昂貴,自主產品比較少.為瞭打破這一現狀,設計瞭一種基于DSP+ PCI的光柵納米測量卡,通過預放大電路對光柵信號進行處理,採用TMS320F28335對處理的光柵信號進行細分處理,基于PCI接口芯片CH365與計算機相連,實現高精度、快速光柵納米在線測量.實驗錶明,運用光柵納米測量卡測量的位移達到瞭納米級.
광책납미측량잡정도고,동태측량범위엄,엄범응용우현대궤하량계량설비중.목전국내시장상적광책측량잡주요래자우국외,개격앙귀,자주산품비교소.위료타파저일현상,설계료일충기우DSP+ PCI적광책납미측량잡,통과예방대전로대광책신호진행처리,채용TMS320F28335대처리적광책신호진행세분처리,기우PCI접구심편CH365여계산궤상련,실현고정도、쾌속광책납미재선측량.실험표명,운용광책납미측량잡측량적위이체도료납미급.
