电子世界
電子世界
전자세계
ELECTRONICS WORLD
2014年
18期
160-160
,共1页
高荣荣%姚成宜%叶超前%马程%刘俊豪%郭红光
高榮榮%姚成宜%葉超前%馬程%劉俊豪%郭紅光
고영영%요성의%협초전%마정%류준호%곽홍광
TFT-LCD%Muar%Rubbing Cloth
TFT-LCD%Muar%Rubbing Cloth
TFT-LCD%Muar%Rubbing Cloth
周边Mura在TN型TFT-LCD（Thin iflm transistor-liquid crystal display）生产中较为常见的一种不良，对画面品质影响较大，文章结合实际生产情况对周边Mura发生的原因进行理论分析和实验验证，周边Mura为光学性不良，通过调整Rubbing强度或者是增加Rubbing Cloth的恢复力等手法验证改善。最终实验得出在实际生产过程中调整Rubbing Cloth厚度和Aging时间，不良率降低80%以上，提高了产品品质。
週邊Mura在TN型TFT-LCD（Thin iflm transistor-liquid crystal display）生產中較為常見的一種不良，對畫麵品質影響較大，文章結閤實際生產情況對週邊Mura髮生的原因進行理論分析和實驗驗證，週邊Mura為光學性不良，通過調整Rubbing彊度或者是增加Rubbing Cloth的恢複力等手法驗證改善。最終實驗得齣在實際生產過程中調整Rubbing Cloth厚度和Aging時間，不良率降低80%以上，提高瞭產品品質。
주변Mura재TN형TFT-LCD（Thin iflm transistor-liquid crystal display）생산중교위상견적일충불량，대화면품질영향교대，문장결합실제생산정황대주변Mura발생적원인진행이론분석화실험험증，주변Mura위광학성불량，통과조정Rubbing강도혹자시증가Rubbing Cloth적회복력등수법험증개선。최종실험득출재실제생산과정중조정Rubbing Cloth후도화Aging시간，불량솔강저80%이상，제고료산품품질。
