中国电子科学研究院学报
中國電子科學研究院學報
중국전자과학연구원학보
JOURNAL OF CHINA ACADEMY OF ELECTRONICS AND INFORMATION TECHNOLOGY
2014年
1期
105-110
,共6页
王庚林%李宁博%李飞%刘永敏
王庚林%李寧博%李飛%劉永敏
왕경림%리저박%리비%류영민
氦质谱细检漏%多次压氦法%预充氦压氦法%测量漏率判据%压氦时长%最长候检时间
氦質譜細檢漏%多次壓氦法%預充氦壓氦法%測量漏率判據%壓氦時長%最長候檢時間
양질보세검루%다차압양법%예충양압양법%측량루솔판거%압양시장%최장후검시간
密封电子元器件在长时间存放后,会存在无法检测的现象.当超过密封件细漏检测的最长候检时间时,应再次压氦,然后进行细检漏.按现行的各种规范的规定,压氦法和预充氦法再压氦的条件、程序和判据一般均与首次压氦相同,但分析表明,这样可能会使测量漏率判据出现成倍或更大的偏差,有时会出现大漏的漏检和细漏的错判.推演出多次压氦法和预充氦压氦法的测量漏率判据公式,给出了相应的压氦条件和细检漏的最长候检时间,从而更为便捷准确地解决了长候检时间下的密封性检测问题.
密封電子元器件在長時間存放後,會存在無法檢測的現象.噹超過密封件細漏檢測的最長候檢時間時,應再次壓氦,然後進行細檢漏.按現行的各種規範的規定,壓氦法和預充氦法再壓氦的條件、程序和判據一般均與首次壓氦相同,但分析錶明,這樣可能會使測量漏率判據齣現成倍或更大的偏差,有時會齣現大漏的漏檢和細漏的錯判.推縯齣多次壓氦法和預充氦壓氦法的測量漏率判據公式,給齣瞭相應的壓氦條件和細檢漏的最長候檢時間,從而更為便捷準確地解決瞭長候檢時間下的密封性檢測問題.
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