微型机与应用
微型機與應用
미형궤여응용
MICROCOMPUTER & ITS APPLICATIONS
2013年
5期
88-90
,共3页
MOS管%导通电阻%自动测试设备%待测器件
MOS管%導通電阻%自動測試設備%待測器件
MOS관%도통전조%자동측시설비%대측기건
导通电阻的准确测量是低导通电阻MOSFET测试中的一个难点.介绍了一种用于低导通电阻MOSFET测试过程中自动校验测试系统的方法.通过在DUT板上增加高精度低阻值标准电阻测试回路的方法,在正式测试前对测试系统进行自动校验,校验合格后继续对MOS管进行测试,否则将停止测试；避免了由于自动测试设备(ATE)、DUT板、金手指等测试单元的精度漂移、器件老化等因素导致测试不准确的情况,保证了产品的测试精度,对提升测试的品质具有重要意义.
導通電阻的準確測量是低導通電阻MOSFET測試中的一箇難點.介紹瞭一種用于低導通電阻MOSFET測試過程中自動校驗測試繫統的方法.通過在DUT闆上增加高精度低阻值標準電阻測試迴路的方法,在正式測試前對測試繫統進行自動校驗,校驗閤格後繼續對MOS管進行測試,否則將停止測試；避免瞭由于自動測試設備(ATE)、DUT闆、金手指等測試單元的精度漂移、器件老化等因素導緻測試不準確的情況,保證瞭產品的測試精度,對提升測試的品質具有重要意義.
도통전조적준학측량시저도통전조MOSFET측시중적일개난점.개소료일충용우저도통전조MOSFET측시과정중자동교험측시계통적방법.통과재DUT판상증가고정도저조치표준전조측시회로적방법,재정식측시전대측시계통진행자동교험,교험합격후계속대MOS관진행측시,부칙장정지측시；피면료유우자동측시설비(ATE)、DUT판、금수지등측시단원적정도표이、기건노화등인소도치측시불준학적정황,보증료산품적측시정도,대제승측시적품질구유중요의의.
