基于FPGA和FT245的芯片功能测试装置的设计与实现
기우FPGA화FT245적심편공능측시장치적설계여실현
Design of IC Chips Functional Test Equipment Based on FPGA and FT245
  • 万方数据
    科学技术与工程 과학기술여공정
    SCIENCE TECHNOLOGY AND ENGINEERING
    2012年 36期 9976-9979,9993 ,共5页

    凌伟%杨燕姣

    릉위%양연교

    FPGA%FT245%数据采集 FPGA%FT245%數據採集
    FPGA%FT245%수거채집
    设计芯片功能测试装置,以FPGA为控制单元,利用FT245实现FPGA与上位机的通信.上位机发送测试数据,然后采集被测芯片的输出响应并分析.与理论上正确的数据进行比较,得出结论.对于模拟芯片设计了A/D和D/A转换模块,调试的结果表明,测试装置可完成对常用芯片的功能测试.
    설계심편공능측시장치,이FPGA위공제단원,이용FT245실현FPGA여상위궤적통신.상위궤발송측시수거,연후채집피측심편적수출향응병분석.여이론상정학적수거진행비교,득출결론.대우모의심편설계료A/D화D/A전환모괴,조시적결과표명,측시장치가완성대상용심편적공능측시.
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