电子质量
電子質量
전자질량
ELECTRONICS QUALITY
2012年
12期
66-69
,共4页
浪涌%波形%耦合去耦网络%不确定度
浪湧%波形%耦閤去耦網絡%不確定度
랑용%파형%우합거우망락%불학정도
surge%waveform%Coupling/decoupling network%uncertainty
浪涌测试是衡量产品电磁兼容性能的重要实验项目，该文通过对新版IEC61000—4—577B／674MCD2012文稿的分析，总结了IEC浪涌标准在波形的定义、耦合去耦网络、测试方法、不确定度估算等方面的新情况。
浪湧測試是衡量產品電磁兼容性能的重要實驗項目，該文通過對新版IEC61000—4—577B／674MCD2012文稿的分析，總結瞭IEC浪湧標準在波形的定義、耦閤去耦網絡、測試方法、不確定度估算等方麵的新情況。
랑용측시시형양산품전자겸용성능적중요실험항목，해문통과대신판IEC61000—4—577B／674MCD2012문고적분석，총결료IEC랑용표준재파형적정의、우합거우망락、측시방법、불학정도고산등방면적신정황。
Surge immunity test is one of the most important experiments to measure electromagnetic compatibility.Through the analysis of IEC 61000-4-5 77B/674A/CD 2012,the paper summarizes the new progress of international surge immunity test standard,which includes the waveform,Coupling/decou- piing network,uncertainty and so on.
