电子与封装
電子與封裝
전자여봉장
EIECTRONICS AND PACKAGING
2014年
5期
37-41
,共5页
长期贮存寿命%失效模式%高温
長期貯存壽命%失效模式%高溫
장기저존수명%실효모식%고온
long storage life%failure mode%high temperature
元器件分别进行常温储存试验和高温贮存试验，通过常温储存试验累积试验数据并以此研究总结元器件长期储存性能参数变化规律和失效模式。通过高温贮存试验加速元器件常温储存过程累积试验数据，根据关键参数随加速试验的变化情况，得到高温贮存条件相对常温储存条件的加速因子，根据加速因子得到加速贮存试验的时间，在该高温点下进行相应时间的加速贮存试验。试验结果即为常温特定年限储存寿命的预计结果，从而在较短的时间内对元器件长期储存寿命做出评定。
元器件分彆進行常溫儲存試驗和高溫貯存試驗，通過常溫儲存試驗纍積試驗數據併以此研究總結元器件長期儲存性能參數變化規律和失效模式。通過高溫貯存試驗加速元器件常溫儲存過程纍積試驗數據，根據關鍵參數隨加速試驗的變化情況，得到高溫貯存條件相對常溫儲存條件的加速因子，根據加速因子得到加速貯存試驗的時間，在該高溫點下進行相應時間的加速貯存試驗。試驗結果即為常溫特定年限儲存壽命的預計結果，從而在較短的時間內對元器件長期儲存壽命做齣評定。
원기건분별진행상온저존시험화고온저존시험，통과상온저존시험루적시험수거병이차연구총결원기건장기저존성능삼수변화규률화실효모식。통과고온저존시험가속원기건상온저존과정루적시험수거，근거관건삼수수가속시험적변화정황，득도고온저존조건상대상온저존조건적가속인자，근거가속인자득도가속저존시험적시간，재해고온점하진행상응시간적가속저존시험。시험결과즉위상온특정년한저존수명적예계결과，종이재교단적시간내대원기건장기저존수명주출평정。
Steady temperature storage to devices was conducted in normal and high temperature, in which procedure, collect device’s electrical parameters after enduring steps, simulate the changing figure in comparison with factor of storage time, analyze the failure modes. accelerating factor can be gotten in the experimental indeed. Temperature’s accelerating effects and effectiveness will be used to evaluate long storage device’s life, and ifnally aimed to qualiifed device’s real storage life in accelerating modes.
