微电子学
微電子學
미전자학
MICROELECTRONICS
2013年
6期
863-866
,共4页
晏开华%曾未来%蒲璞%罗俊
晏開華%曾未來%蒲璞%囉俊
안개화%증미래%포박%라준
收发组件%波控芯片%现场可编程门阵列%自动测试系统
收髮組件%波控芯片%現場可編程門陣列%自動測試繫統
수발조건%파공심편%현장가편정문진렬%자동측시계통
T/R module%Beam control IC%FPGA%Automatic test system
从分析收发(T/R)组件波控芯片的工作原理及主要测试参数出发,研究了一种小型化自动测试系统.利用FPGA完成数据发送及数据检测,可以大大降低成本、增强系统集成度,使整个测试系统的体积小、重量轻、成本低.经实际测试验证,该测试系统能够有效地完成T/R组件波控芯片的全参数自动测试.
從分析收髮(T/R)組件波控芯片的工作原理及主要測試參數齣髮,研究瞭一種小型化自動測試繫統.利用FPGA完成數據髮送及數據檢測,可以大大降低成本、增彊繫統集成度,使整箇測試繫統的體積小、重量輕、成本低.經實際測試驗證,該測試繫統能夠有效地完成T/R組件波控芯片的全參數自動測試.
종분석수발(T/R)조건파공심편적공작원리급주요측시삼수출발,연구료일충소형화자동측시계통.이용FPGA완성수거발송급수거검측,가이대대강저성본、증강계통집성도,사정개측시계통적체적소、중량경、성본저.경실제측시험증,해측시계통능구유효지완성T/R조건파공심편적전삼수자동측시.
