微电子学
微電子學
미전자학
MICROELECTRONICS
2013年
6期
871-875,880
,共6页
集成电路%微控制器%电磁抗扰性%引脚位置
集成電路%微控製器%電磁抗擾性%引腳位置
집성전로%미공제기%전자항우성%인각위치
Integrated circuit%Microcontroller%Electromagnetic immunity%Pin location
研究了复杂集成电路电磁抗扰性与受测引脚位置的关系.通过建模分析发现,注入受测引脚的电磁杂波通过封装耦合到敏感的时钟模块,导致时钟模块失效,在抗扰性曲线上形成相关结构.因耦合与受测引脚的位置有关,所以受测引脚位置会影响到抗扰性.对样品微控制器的抗扰性进行测量,验证了上述受测引脚位置对集成电路抗扰性的影响.研究表明,即使是同类受测引脚,其位置的改变可以明显影响到抗扰性测试结果.
研究瞭複雜集成電路電磁抗擾性與受測引腳位置的關繫.通過建模分析髮現,註入受測引腳的電磁雜波通過封裝耦閤到敏感的時鐘模塊,導緻時鐘模塊失效,在抗擾性麯線上形成相關結構.因耦閤與受測引腳的位置有關,所以受測引腳位置會影響到抗擾性.對樣品微控製器的抗擾性進行測量,驗證瞭上述受測引腳位置對集成電路抗擾性的影響.研究錶明,即使是同類受測引腳,其位置的改變可以明顯影響到抗擾性測試結果.
연구료복잡집성전로전자항우성여수측인각위치적관계.통과건모분석발현,주입수측인각적전자잡파통과봉장우합도민감적시종모괴,도치시종모괴실효,재항우성곡선상형성상관결구.인우합여수측인각적위치유관,소이수측인각위치회영향도항우성.대양품미공제기적항우성진행측량,험증료상술수측인각위치대집성전로항우성적영향.연구표명,즉사시동류수측인각,기위치적개변가이명현영향도항우성측시결과.
