现代雷达
現代雷達
현대뢰체
MODERN RADAR
2013年
12期
76-79
,共4页
GaN功率管%加速寿命实验%可靠性
GaN功率管%加速壽命實驗%可靠性
GaN공솔관%가속수명실험%가고성
GaN power devices%accelerated life testing%reliability
GaN HEMT的出现,使得有关电子设备性能的大幅度提升成为了可能.为了尽快实现该器件的工程化应用,需要对器件的可靠性进行相关研究.基于阿伦尼乌斯模型对某型号GaN HEMT进行了加速寿命试验,结果显示,该功率管MTTF＞2×106 h(85℃,长脉宽,大占空比).相关结果可为用户开展GaN功率管的可靠性设计等相关研究提供数据支持.
GaN HEMT的齣現,使得有關電子設備性能的大幅度提升成為瞭可能.為瞭儘快實現該器件的工程化應用,需要對器件的可靠性進行相關研究.基于阿倫尼烏斯模型對某型號GaN HEMT進行瞭加速壽命試驗,結果顯示,該功率管MTTF＞2×106 h(85℃,長脈寬,大佔空比).相關結果可為用戶開展GaN功率管的可靠性設計等相關研究提供數據支持.
GaN HEMT적출현,사득유관전자설비성능적대폭도제승성위료가능.위료진쾌실현해기건적공정화응용,수요대기건적가고성진행상관연구.기우아륜니오사모형대모형호GaN HEMT진행료가속수명시험,결과현시,해공솔관MTTF＞2×106 h(85℃,장맥관,대점공비).상관결과가위용호개전GaN공솔관적가고성설계등상관연구제공수거지지.
