河南科技
河南科技
하남과기
HENANKEJI
2013年
21期
68,79
,共2页
四探针头%弹簧片%模具%连接件%检测
四探針頭%彈簧片%模具%連接件%檢測
사탐침두%탄황편%모구%련접건%검측
四探针技术是测量半导体电阻率的专用测量手段.介绍四探针探头的测试原理,在测试中影响四探针头性能的几个问题:弹簧片的结构存在不足,锥头与铜套配对容易错位,测试架连接件结构对测量的不良影响,以及检测探头参数的方法繁琐等,提出应对的改进方法.
四探針技術是測量半導體電阻率的專用測量手段.介紹四探針探頭的測試原理,在測試中影響四探針頭性能的幾箇問題:彈簧片的結構存在不足,錐頭與銅套配對容易錯位,測試架連接件結構對測量的不良影響,以及檢測探頭參數的方法繁瑣等,提齣應對的改進方法.
사탐침기술시측량반도체전조솔적전용측량수단.개소사탐침탐두적측시원리,재측시중영향사탐침두성능적궤개문제:탄황편적결구존재불족,추두여동투배대용역착위,측시가련접건결구대측량적불량영향,이급검측탐두삼수적방법번쇄등,제출응대적개진방법.
