科技通报
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과기통보
BULLETIN OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
2013年
3期
120-124
,共5页
相似多目标识别%小波变换%模板匹配%归一化互相关%自适应%搜索域
相似多目標識彆%小波變換%模闆匹配%歸一化互相關%自適應%搜索域
상사다목표식별%소파변환%모판필배%귀일화호상관%자괄응%수색역
根据LED晶片wafer图像的特点,利用小波变换的多分辨率分析提出了一种相似多目标的识别算法.wafer图像经过小波分解后,利用灰度归一化互相关算法,在其低分辨率尺度空间内进行整体模板匹配,然后将匹配结果在其高分辨率尺度空间内进行局部匹配,最终实现了全分辨率下LED晶片的精确识别.改进算法中利用步长自适应调整算法,使相关性系数计算量比原来减少了40％.试验表明该算法有效地缩小了搜索域,提高了晶片的识别效率.
根據LED晶片wafer圖像的特點,利用小波變換的多分辨率分析提齣瞭一種相似多目標的識彆算法.wafer圖像經過小波分解後,利用灰度歸一化互相關算法,在其低分辨率呎度空間內進行整體模闆匹配,然後將匹配結果在其高分辨率呎度空間內進行跼部匹配,最終實現瞭全分辨率下LED晶片的精確識彆.改進算法中利用步長自適應調整算法,使相關性繫數計算量比原來減少瞭40％.試驗錶明該算法有效地縮小瞭搜索域,提高瞭晶片的識彆效率.
근거LED정편wafer도상적특점,이용소파변환적다분변솔분석제출료일충상사다목표적식별산법.wafer도상경과소파분해후,이용회도귀일화호상관산법,재기저분변솔척도공간내진행정체모판필배,연후장필배결과재기고분변솔척도공간내진행국부필배,최종실현료전분변솔하LED정편적정학식별.개진산법중이용보장자괄응조정산법,사상관성계수계산량비원래감소료40％.시험표명해산법유효지축소료수색역,제고료정편적식별효솔.
