杭州电子科技大学学报
杭州電子科技大學學報
항주전자과기대학학보
JOURNAL OF HANGZHOU DIANZI UNIVERSITY
2012年
5期
132-134
,共3页
半导体器件%寿命计算%失效率%阿伦纽斯模型
半導體器件%壽命計算%失效率%阿倫紐斯模型
반도체기건%수명계산%실효솔%아륜뉴사모형
该文简要介绍通过半导体器件的环境试验计算器件寿命.首先介绍了4种加速模型,以及各模型的应用；其次,根据给定的置信度水平以及试验结果查×2分布表；而后,根据试验时间和样本量求得失效率；最后,根据电子元器件服从指数分布的假设条件,求得器件的寿命.
該文簡要介紹通過半導體器件的環境試驗計算器件壽命.首先介紹瞭4種加速模型,以及各模型的應用；其次,根據給定的置信度水平以及試驗結果查×2分佈錶；而後,根據試驗時間和樣本量求得失效率；最後,根據電子元器件服從指數分佈的假設條件,求得器件的壽命.
해문간요개소통과반도체기건적배경시험계산기건수명.수선개소료4충가속모형,이급각모형적응용；기차,근거급정적치신도수평이급시험결과사×2분포표；이후,근거시험시간화양본량구득실효솔；최후,근거전자원기건복종지수분포적가설조건,구득기건적수명.
