用于60GHz CMOS芯片测试的片上巴伦的设计
용우60GHz CMOS심편측시적편상파륜적설계
Design of on-chip balun used for 60GHz CMOS chip measurement
  • 万方数据
    信息技术 신식기술
    INFORMATION TECHNOLOGY
    2013年 1期 112-114 ,共3页

    郭开喆%黄鹏

    곽개철%황붕

    60GHz%片上巴伦%测试%CMOS 60GHz%片上巴倫%測試%CMOS
    60GHz%편상파륜%측시%CMOS
    介绍了一种60GHz频段的测试用片上巴伦,采用调节中间抽头位置的方法来补偿巴伦的不平衡.仿真结果表明其幅度不平衡度为0.01dB,相位不平衡度为2°,损耗为1.1dB.并讨论了如何用二端口矢量网络分析仪来测试巴伦的小信号参数以及如何用巴伦来测试差分电路的差分S参数.
    개소료일충60GHz빈단적측시용편상파륜,채용조절중간추두위치적방법래보상파륜적불평형.방진결과표명기폭도불평형도위0.01dB,상위불평형도위2°,손모위1.1dB.병토론료여하용이단구시량망락분석의래측시파륜적소신호삼수이급여하용파륜래측시차분전로적차분S삼수.
    원문보기 원문다운로드 사이트로이동
저자의 최근 논문