电子质量
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전자질량
ELECTRONICS QUALITY
2013年
1期
69-70,72
,共3页
半波暗室%10米法%3米法%归一化场地衰减(NSA)%辐射骚扰场强
半波暗室%10米法%3米法%歸一化場地衰減(NSA)%輻射騷擾場彊
반파암실%10미법%3미법%귀일화장지쇠감(NSA)%복사소우장강
讨论了30MHz~1GHz辐射骚扰场强测试中,10米法和3米法测试结果的差异,并简单地分析了产生差异的原因,例如,远近场问题,测试角度范围的不同,暗室本身的归一化场地衰减(NSA)都会对测试结果产生差异.
討論瞭30MHz~1GHz輻射騷擾場彊測試中,10米法和3米法測試結果的差異,併簡單地分析瞭產生差異的原因,例如,遠近場問題,測試角度範圍的不同,暗室本身的歸一化場地衰減(NSA)都會對測試結果產生差異.
토론료30MHz~1GHz복사소우장강측시중,10미법화3미법측시결과적차이,병간단지분석료산생차이적원인,례여,원근장문제,측시각도범위적불동,암실본신적귀일화장지쇠감(NSA)도회대측시결과산생차이.