高速高分辨率ADC有效位测试方法研究
고속고분변솔ADC유효위측시방법연구
Research on the ENOB test methods of high-speed high-resolution ADC
  • 万方数据
    电子技术应用 전자기술응용
    APPLICATION OF ELECTRONIC TECHNIQUE
    2013年 5期 41-43 ,共3页

    李海涛%李斌康%阮林波%田耕%田晓霞%渠红光%王晶%张雁霞

    리해도%리빈강%원림파%전경%전효하%거홍광%왕정%장안하

    ADC有效位%FFT%ADS5400 ADC有效位%FFT%ADS5400
    ADC유효위%FFT%ADS5400
    介绍了ADC的有效位计算公式,分析了ADC的性能参数测试方法,给出了ADC的有效位测试解决方案.对FFT方法在ADC性能测试中的应用做了深入探讨,包括频谱泄露、相干采样和加窗函数等.采用一种改进的FFT方法对TI公司的ADS5400进行有效位测试,得到其在400 MS/s采样率的有效位ENOB=9.12 bit(fin=1.123 MHz).
    개소료ADC적유효위계산공식,분석료ADC적성능삼수측시방법,급출료ADC적유효위측시해결방안.대FFT방법재ADC성능측시중적응용주료심입탐토,포괄빈보설로、상간채양화가창함수등.채용일충개진적FFT방법대TI공사적ADS5400진행유효위측시,득도기재400 MS/s채양솔적유효위ENOB=9.12 bit(fin=1.123 MHz).
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