发光学报
髮光學報
발광학보
CHINESE JOURNAL OF LUMINESCENCE
2013年
2期
218-224
,共7页
孙芳芳%贺蕴秋%李一鸣%李乐%储晓菲%黄河洲
孫芳芳%賀蘊鞦%李一鳴%李樂%儲曉菲%黃河洲
손방방%하온추%리일명%리악%저효비%황하주
ZnO薄膜%恒电流%修饰%透明电极
ZnO薄膜%恆電流%脩飾%透明電極
ZnO박막%항전류%수식%투명전겁
以修饰的ITO玻璃为衬底,以不同浓度Zn(NO3)2·6H2O作为电解质溶液,采用阴极恒流沉积法制备了不同纳米结构的ZnO薄膜.用X射线衍射(XRD)、场发射扫描电镜(FE-SEM)、四探针仪(RTS-8)、紫外-可见(UV-Vis)光谱仪、循环伏安等分别表征薄膜的晶相、形貌和厚度、方块电阻、紫外-可见光透过率和氧化还原电位.结果表明:低浓度溶液沉积得到的c轴取向1D ZnO纳米柱和高浓度溶液沉积得到的致密2D六方ZnO纳米片在可见光范围(400~900 nm)的透过率均可高达85%以上,方块电阻约为14.5 Ω/口.两种结构的氧化还原电位有显著区别,纳米柱的为-0.54 V(vs.SCE),而纳米片的为-0.72 V(vs.SCE),说明纳米片状的ZnO薄膜具有更为良好的化学稳定性.
以脩飾的ITO玻璃為襯底,以不同濃度Zn(NO3)2·6H2O作為電解質溶液,採用陰極恆流沉積法製備瞭不同納米結構的ZnO薄膜.用X射線衍射(XRD)、場髮射掃描電鏡(FE-SEM)、四探針儀(RTS-8)、紫外-可見(UV-Vis)光譜儀、循環伏安等分彆錶徵薄膜的晶相、形貌和厚度、方塊電阻、紫外-可見光透過率和氧化還原電位.結果錶明:低濃度溶液沉積得到的c軸取嚮1D ZnO納米柱和高濃度溶液沉積得到的緻密2D六方ZnO納米片在可見光範圍(400~900 nm)的透過率均可高達85%以上,方塊電阻約為14.5 Ω/口.兩種結構的氧化還原電位有顯著區彆,納米柱的為-0.54 V(vs.SCE),而納米片的為-0.72 V(vs.SCE),說明納米片狀的ZnO薄膜具有更為良好的化學穩定性.
이수식적ITO파리위츤저,이불동농도Zn(NO3)2·6H2O작위전해질용액,채용음겁항류침적법제비료불동납미결구적ZnO박막.용X사선연사(XRD)、장발사소묘전경(FE-SEM)、사탐침의(RTS-8)、자외-가견(UV-Vis)광보의、순배복안등분별표정박막적정상、형모화후도、방괴전조、자외-가견광투과솔화양화환원전위.결과표명:저농도용액침적득도적c축취향1D ZnO납미주화고농도용액침적득도적치밀2D륙방ZnO납미편재가견광범위(400~900 nm)적투과솔균가고체85%이상,방괴전조약위14.5 Ω/구.량충결구적양화환원전위유현저구별,납미주적위-0.54 V(vs.SCE),이납미편적위-0.72 V(vs.SCE),설명납미편상적ZnO박막구유경위량호적화학은정성.