光学精密工程
光學精密工程
광학정밀공정
OPTICS AND PRECISION ENGINEERING
2013年
11期
2778-2784
,共7页
李豫东%汪波%郭旗%玛丽娅%任建伟
李豫東%汪波%郭旂%瑪麗婭%任建偉
리예동%왕파%곽기%마려아%임건위
CCD%CMOS APS%辐射效应%抗辐射性能
CCD%CMOS APS%輻射效應%抗輻射性能
CCD%CMOS APS%복사효응%항복사성능
CCD%CMOS APS%radiation effect%anti-radiation performance
研制了中荷耦合器件(CCD)与互补金属氧化物半导体有源像素图像传感器(CMOS APS)辐射效应测试系统,用于研究CCD、CMOS APS图像传感器的辐射效应并准确评估器件的空间辐射环境适应性.该系统采用光机电一体化结构设计,包括光电响应性能检测、光谱检测、控制及数据处理3个分系统,可对器件的光电响应性能、光谱特性进行全面的定量测试与分析.系统的光谱分辨率为1 nm,工作波段为0.38～1.1 μm.目前,该系统与新疆理化所现有的辐照装置结合,构成了光电成像器件辐射效应模拟试验与抗辐射性能评估平台,已为国产宇航CCD与CMOS APS图像传感器的研制、空间应用部门的成像器件选型工作提供了多次考核评估试验.应用情况表明,该系统可定量检测与评价CCD、CMOS APS图像传感器的辐射效应与抗辐射性能,为深入开展光电成像器件的辐射效应研究提供了完善的试验研究条件.
研製瞭中荷耦閤器件(CCD)與互補金屬氧化物半導體有源像素圖像傳感器(CMOS APS)輻射效應測試繫統,用于研究CCD、CMOS APS圖像傳感器的輻射效應併準確評估器件的空間輻射環境適應性.該繫統採用光機電一體化結構設計,包括光電響應性能檢測、光譜檢測、控製及數據處理3箇分繫統,可對器件的光電響應性能、光譜特性進行全麵的定量測試與分析.繫統的光譜分辨率為1 nm,工作波段為0.38～1.1 μm.目前,該繫統與新疆理化所現有的輻照裝置結閤,構成瞭光電成像器件輻射效應模擬試驗與抗輻射性能評估平檯,已為國產宇航CCD與CMOS APS圖像傳感器的研製、空間應用部門的成像器件選型工作提供瞭多次攷覈評估試驗.應用情況錶明,該繫統可定量檢測與評價CCD、CMOS APS圖像傳感器的輻射效應與抗輻射性能,為深入開展光電成像器件的輻射效應研究提供瞭完善的試驗研究條件.
연제료중하우합기건(CCD)여호보금속양화물반도체유원상소도상전감기(CMOS APS)복사효응측시계통,용우연구CCD、CMOS APS도상전감기적복사효응병준학평고기건적공간복사배경괄응성.해계통채용광궤전일체화결구설계,포괄광전향응성능검측、광보검측、공제급수거처리3개분계통,가대기건적광전향응성능、광보특성진행전면적정량측시여분석.계통적광보분변솔위1 nm,공작파단위0.38～1.1 μm.목전,해계통여신강이화소현유적복조장치결합,구성료광전성상기건복사효응모의시험여항복사성능평고평태,이위국산우항CCD여CMOS APS도상전감기적연제、공간응용부문적성상기건선형공작제공료다차고핵평고시험.응용정황표명,해계통가정량검측여평개CCD、CMOS APS도상전감기적복사효응여항복사성능,위심입개전광전성상기건적복사효응연구제공료완선적시험연구조건.
