微电子学
微電子學
미전자학
MICROELECTRONICS
2013年
3期
449-452
,共4页
刘锐%陈亚兰%唐万军%姚世锋
劉銳%陳亞蘭%唐萬軍%姚世鋒
류예%진아란%당만군%요세봉
陶瓷电容%失效模式%失效分析
陶瓷電容%失效模式%失效分析
도자전용%실효모식%실효분석
Ceramic capacitor%Failure mode%Failure analysis
介绍了片式陶瓷电容的基本结构和材料特性及其常见的短路、开路和参数漂移失效模式；分析了失效的主要原因.结合工程实践,从器件选型、用前筛选、版图及结构设计和装配工艺选择等方面,给出了提高多层陶瓷电容使用可靠性的建议.
介紹瞭片式陶瓷電容的基本結構和材料特性及其常見的短路、開路和參數漂移失效模式；分析瞭失效的主要原因.結閤工程實踐,從器件選型、用前篩選、版圖及結構設計和裝配工藝選擇等方麵,給齣瞭提高多層陶瓷電容使用可靠性的建議.
개소료편식도자전용적기본결구화재료특성급기상견적단로、개로화삼수표이실효모식；분석료실효적주요원인.결합공정실천,종기건선형、용전사선、판도급결구설계화장배공예선택등방면,급출료제고다층도자전용사용가고성적건의.
