电子与封装
電子與封裝
전자여봉장
EIECTRONICS AND PACKAGING
2014年
10期
8-10
,共3页
VTP%LabVIEW%ACE
VTP%LabVIEW%ACE
VTP%LabVIEW%ACE
VTP%labVIEW%ACE
设计了一种基于LabVIEW的VTP测试系统。分为测试端和被测试端两部分。被测试端由DSP&CPLD对ACE的配置电路组成的实装板。测试端是可进行总线错误注入的AIT板卡和LabVIEW程序。实装板通过串口指令与DSP通信切换UUT的配置状态,通过对AIT板卡的测试序列响应结果判断对错,测试软件采用模块化设计思想,具有良好的复用性和可移植性。综合使用了DSP、CPLD、LabVIEW编程技术。试验结果表明,系统能够实现国军标中的协议测试,且能准确显示错误, Debug能力强,有比较良好的应用前景。
設計瞭一種基于LabVIEW的VTP測試繫統。分為測試耑和被測試耑兩部分。被測試耑由DSP&CPLD對ACE的配置電路組成的實裝闆。測試耑是可進行總線錯誤註入的AIT闆卡和LabVIEW程序。實裝闆通過串口指令與DSP通信切換UUT的配置狀態,通過對AIT闆卡的測試序列響應結果判斷對錯,測試軟件採用模塊化設計思想,具有良好的複用性和可移植性。綜閤使用瞭DSP、CPLD、LabVIEW編程技術。試驗結果錶明,繫統能夠實現國軍標中的協議測試,且能準確顯示錯誤, Debug能力彊,有比較良好的應用前景。
설계료일충기우LabVIEW적VTP측시계통。분위측시단화피측시단량부분。피측시단유DSP&CPLD대ACE적배치전로조성적실장판。측시단시가진행총선착오주입적AIT판잡화LabVIEW정서。실장판통과천구지령여DSP통신절환UUT적배치상태,통과대AIT판잡적측시서렬향응결과판단대착,측시연건채용모괴화설계사상,구유량호적복용성화가이식성。종합사용료DSP、CPLD、LabVIEW편정기술。시험결과표명,계통능구실현국군표중적협의측시,차능준학현시착오, Debug능력강,유비교량호적응용전경。
It is designed VTP test system. It consists of under test part and bus tester. The under test part contain the DSP & CPLD which make the AE board configuration. The bus tester contain the AIT which can do the error injection on the bus under the control of labVIEW program. The DSP on AE board configuration status is changed through the SCI, the response decide the pass or fail. The test software use the modular design ideas, with good reusability and portability. It combines the use of DSP & CPLD, LabVIEW program techniques. Experimental result show that the system realizes GJB ACE protocol tests, exactly show error type, good debug ability, has a good prospect.