电子科技
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전자과기
IT AGE
2013年
11期
89-92
,共4页
孙野%房志刚%陈晖照%黄维%张举
孫野%房誌剛%陳暉照%黃維%張舉
손야%방지강%진휘조%황유%장거
三模冗余%动态刷新%单粒子效应
三模冗餘%動態刷新%單粒子效應
삼모용여%동태쇄신%단입자효응
作为星载设备信号处理核心器件,SRAM FPGA的单粒子效应加固及加固方法验证始终备受关注.文中研究了三模冗余和动态刷新两种加固方法,并设计了故障仿真验证方法,试验应用故障注入技术,采用比对方法,成功对加固方法进行了验证.试验结果显示,文中设计的加固方法可提高抗单粒子性能.
作為星載設備信號處理覈心器件,SRAM FPGA的單粒子效應加固及加固方法驗證始終備受關註.文中研究瞭三模冗餘和動態刷新兩種加固方法,併設計瞭故障倣真驗證方法,試驗應用故障註入技術,採用比對方法,成功對加固方法進行瞭驗證.試驗結果顯示,文中設計的加固方法可提高抗單粒子性能.
작위성재설비신호처리핵심기건,SRAM FPGA적단입자효응가고급가고방법험증시종비수관주.문중연구료삼모용여화동태쇄신량충가고방법,병설계료고장방진험증방법,시험응용고장주입기술,채용비대방법,성공대가고방법진행료험증.시험결과현시,문중설계적가고방법가제고항단입자성능.
