电子测试
電子測試
전자측시
ELECTRONIC TEST
2013年
17期
82-85
,共4页
王春宇%管金凤%陈燕宁%张海峰
王春宇%管金鳳%陳燕寧%張海峰
왕춘우%관금봉%진연저%장해봉
RFID%ATE%测试解决方案%低成本
RFID%ATE%測試解決方案%低成本
RFID%ATE%측시해결방안%저성본
随着物联网的高速发展,作为其核心技术的RFID得到了越来越广泛地的应用,RFID芯片的测试需求也是越来越多.本文从RFID芯片的特点以及测试难点入手,着重对RFID芯片调谐电容测试和RF功能测试在ATE上的测试解决方案进行分析.该方案易实现、成本低,是目前RFID芯片量产测试的通用测试解决方案.
隨著物聯網的高速髮展,作為其覈心技術的RFID得到瞭越來越廣汎地的應用,RFID芯片的測試需求也是越來越多.本文從RFID芯片的特點以及測試難點入手,著重對RFID芯片調諧電容測試和RF功能測試在ATE上的測試解決方案進行分析.該方案易實現、成本低,是目前RFID芯片量產測試的通用測試解決方案.
수착물련망적고속발전,작위기핵심기술적RFID득도료월래월엄범지적응용,RFID심편적측시수구야시월래월다.본문종RFID심편적특점이급측시난점입수,착중대RFID심편조해전용측시화RF공능측시재ATE상적측시해결방안진행분석.해방안역실현、성본저,시목전RFID심편양산측시적통용측시해결방안.
