电子与封装
電子與封裝
전자여봉장
EIECTRONICS AND PACKAGING
2013年
6期
10-12,28
,共4页
功能测试%直流测试%交流测试%测试向量
功能測試%直流測試%交流測試%測試嚮量
공능측시%직류측시%교류측시%측시향량
function test%DC test%AC test%test vector
为了更好地满足生产质量要求，严格测试电路的全部功能及交直流参数是十分必要的。在多年测试实践基础上，文章提出了数字电路测试程序设计的概要。随着集成电路的集成度越来越高，功能更加强大，测试向量越来越大，测试时间也越来越长。为了降低测试成本，Teradyne J750测试系统以测试速度快的特点，顺应测试行业的发展，在行业中得到了广泛的应用。文中以74HC123芯片为例，对于一些数字电路关键测试技术在Teradyne J750测试机上的调试做出了较详细的阐述。
為瞭更好地滿足生產質量要求，嚴格測試電路的全部功能及交直流參數是十分必要的。在多年測試實踐基礎上，文章提齣瞭數字電路測試程序設計的概要。隨著集成電路的集成度越來越高，功能更加彊大，測試嚮量越來越大，測試時間也越來越長。為瞭降低測試成本，Teradyne J750測試繫統以測試速度快的特點，順應測試行業的髮展，在行業中得到瞭廣汎的應用。文中以74HC123芯片為例，對于一些數字電路關鍵測試技術在Teradyne J750測試機上的調試做齣瞭較詳細的闡述。
위료경호지만족생산질량요구，엄격측시전로적전부공능급교직류삼수시십분필요적。재다년측시실천기출상，문장제출료수자전로측시정서설계적개요。수착집성전로적집성도월래월고，공능경가강대，측시향량월래월대，측시시간야월래월장。위료강저측시성본，Teradyne J750측시계통이측시속도쾌적특점，순응측시행업적발전，재행업중득도료엄범적응용。문중이74HC123심편위례，대우일사수자전로관건측시기술재Teradyne J750측시궤상적조시주출료교상세적천술。
With higher integrated, more powerful function and more testing vector, the time spent in testing gets longer. To reduce the cost, Teradyne J750, a fast speed testing system is widely used in the industry. Just take the 74HC123 circuit for an example, some key technologies for how to debug on J750 is made more elaborated.
