真空电子技术
真空電子技術
진공전자기술
VACUUM ELECTRONICS
2014年
4期
24-28
,共5页
程诚%李季%于志强%聂秋玲%高玉娟%朱木易
程誠%李季%于誌彊%聶鞦玲%高玉娟%硃木易
정성%리계%우지강%섭추령%고옥연%주목역
阴极%蒸发%锇膜%衰减%寿命试验
陰極%蒸髮%鋨膜%衰減%壽命試驗
음겁%증발%철막%쇠감%수명시험
Cathode%Evaporation%Osmium film%Degradation%Life test
本文介绍了对覆锇阴极在寿命过程中的钡蒸发与膜层退化进行的研究.试验分别在二极管和蒸发测试管两种载体中进行,工作温度为1 000,1 040,1 080,1 120℃.分别测量了阴极的蒸发速率、欠热特性,并对样品进行了扫描电镜表面分析以及能谱(EDS)分析.试验结果表明阴极正常工作温度下,600 h后进入10-11 g/cm2 s量级.二极管中阴极的功函数呈现出下降趋势.阴极表面形貌显示随着工作时间增长,表面呈现出越来越多的可见孔.EDS分析表明,阴极表面的W-Os比例在已进行寿命试验过程中保持稳定.在1 080℃以下,钡蒸发是阴极寿命衰减的主要因素,并建立基于钡耗尽的蒸发失效模型.
本文介紹瞭對覆鋨陰極在壽命過程中的鋇蒸髮與膜層退化進行的研究.試驗分彆在二極管和蒸髮測試管兩種載體中進行,工作溫度為1 000,1 040,1 080,1 120℃.分彆測量瞭陰極的蒸髮速率、欠熱特性,併對樣品進行瞭掃描電鏡錶麵分析以及能譜(EDS)分析.試驗結果錶明陰極正常工作溫度下,600 h後進入10-11 g/cm2 s量級.二極管中陰極的功函數呈現齣下降趨勢.陰極錶麵形貌顯示隨著工作時間增長,錶麵呈現齣越來越多的可見孔.EDS分析錶明,陰極錶麵的W-Os比例在已進行壽命試驗過程中保持穩定.在1 080℃以下,鋇蒸髮是陰極壽命衰減的主要因素,併建立基于鋇耗儘的蒸髮失效模型.
본문개소료대복철음겁재수명과정중적패증발여막층퇴화진행적연구.시험분별재이겁관화증발측시관량충재체중진행,공작온도위1 000,1 040,1 080,1 120℃.분별측량료음겁적증발속솔、흠열특성,병대양품진행료소묘전경표면분석이급능보(EDS)분석.시험결과표명음겁정상공작온도하,600 h후진입10-11 g/cm2 s량급.이겁관중음겁적공함수정현출하강추세.음겁표면형모현시수착공작시간증장,표면정현출월래월다적가견공.EDS분석표명,음겁표면적W-Os비례재이진행수명시험과정중보지은정.재1 080℃이하,패증발시음겁수명쇠감적주요인소,병건립기우패모진적증발실효모형.
