中国化工贸易
中國化工貿易
중국화공무역
CHINA CHEMICAL TRADE
2014年
18期
197-197,198
,共2页
蔚志毅%王力军%张武萍
蔚誌毅%王力軍%張武萍
위지의%왕력군%장무평
X射线荧光光谱法%SiO2%差量法
X射線熒光光譜法%SiO2%差量法
X사선형광광보법%SiO2%차량법
本文采用高温融解硅石，然后利用 X 射线荧光光谱法测定硅石中主体成分SiO2的含量。通过标准样品制作标准曲线，分析确定熔剂的选择及标准品和样品的稀释所需比例，另外探讨了脱膜剂的使用量对实验重现性的影响。通过实验数据表明，本方法可用于硅石中SiO2的分析，精度满足要求。
本文採用高溫融解硅石，然後利用 X 射線熒光光譜法測定硅石中主體成分SiO2的含量。通過標準樣品製作標準麯線，分析確定鎔劑的選擇及標準品和樣品的稀釋所需比例，另外探討瞭脫膜劑的使用量對實驗重現性的影響。通過實驗數據錶明，本方法可用于硅石中SiO2的分析，精度滿足要求。
본문채용고온융해규석，연후이용 X 사선형광광보법측정규석중주체성분SiO2적함량。통과표준양품제작표준곡선，분석학정용제적선택급표준품화양품적희석소수비례，령외탐토료탈막제적사용량대실험중현성적영향。통과실험수거표명，본방법가용우규석중SiO2적분석，정도만족요구。
