电子世界
電子世界
전자세계
ELECTRONICS WORLD
2014年
12期
428-428,429
,共2页
半导体整流器件%高温性能负荷试验%漏电流%测试
半導體整流器件%高溫性能負荷試驗%漏電流%測試
반도체정류기건%고온성능부하시험%루전류%측시
本文是针对半导体整流器件高温性能负荷试验后，如何进行其准确的漏电流测试设备的研制进行简析。
本文是針對半導體整流器件高溫性能負荷試驗後，如何進行其準確的漏電流測試設備的研製進行簡析。
본문시침대반도체정류기건고온성능부하시험후，여하진행기준학적루전류측시설비적연제진행간석。
